倪兆明，男，生于1963年7月。1985年毕业于上海科技大学材料物理化学系。1985-1996年在上海无线电十四厂从事半导体芯片可靠性分析，主持设计了国内第一代采用PC个人电脑控制的芯片在线检测系统并参加了电子工业部主持的国家75公关项目 - 计算机辅助超大规模集成电路测试系统程序库工程，获得电子工业部颁发的科技成果奖。1996-2001 担任美国 Intel 公司在中国的首条生产线启动工程协调员，负责首个产品从Intel 海外工厂向中国的转移过程中，有关设备安装调试产品试生产、质量检测、海外工程师和中国工程师团队协调和资源调度。2004-2008，在担任美国半导体设备和材料工业组织(SEMI)中国区工业统计和研究主管期间，致力促进中国公司和海外公司在高科技领域的合作以及促成美国有关政府和国会部门放松对中国的高科技产品出口管制限制。2001-2004年间，倪兆明担任美国GenRad/Teradyne公司高级产品技术专员，2008-2012年间任美国半导体硅片和太阳能厂商MEMC/SunEdison全球业务高级分析师兼中国市场高级顾问。2013年10月引进至中科院上海微系统所担任高级工程师。